Röntgenfluorescentie (XRF) is een non-destructieve elementaire analysetechniek voor de kwalitatieve en kwantitatieve bepaling van de chemische samenstelling van vaste stoffen en vloeistoffen. De analysetechniek is geschikt voor de bepaling van elementen met een atoomnummer hoger dan fluor (Z> 9).

Het monster wordt bestraald met hoog-energetische straling. Op atomair niveau leidt deze straling tot emissie van een elektron. Daardoor zal een elektron uit een hogere schil terugvallen onder uitstoting van karakteristieke röntgenstralenstraling waarvan de golflengte specifiek is voor het element en de bijbehorende intensiteit evenredig is aan de concentratie van het bewuste element.

Monsters kunnen worden geanalyseerd in vloeibare of vaste vorm. De systematische fout van de XRF techniek is meestal beter dan 10% relatief.

De XRF analyses worden uitgevoerd op een Philips PW 2400 röntgenfluorescentie analyser.