La spectrométrie de fluorescence X est une méthode non destructive pour déterminer la composition élémentaire ou chimique des solides et des liquides. La détermination des éléments ayant une masse atomique plus élevé que fluor (Z> 9) est possible.
L’échantillon est irradié de rayonnements à haute valeur énergétique. Au niveau atomique, ces rayons vont entraîner l’émission d’un électron. En conséquence, un électron d’une écorce supérieure descend en émettant des rayons X caractéristiques en longueur d’onde. L’intensité de rayons X émit est proportionnelle à la concentration de l’élément correspondant.
Des échantillons liquides ou sous forme solide peuvent être analysés. L’erreur systématique de la spectrométrie par fluorescence de rayons-X est généralement supérieure à relativement 10%.
Les analyses de la composition chimique sont effectuées sur un Philips PW2400.
