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Microscopie électronique

Le microscope électronique à balayage (MEB) est souvent utilisé quand la visualisation d’un solide est nécessaire pour obtenir la taille des particules, leur forme et la topographie.

L’échantillon est généralement plaqué d’une fine couche d’or et bombardé d’électrons pour visualiser la surface, qui ne cesse d’être scannée et reconstruite. La source d’électrons est concentrée en une fine sonde est rastérisé sur la surface de l’échantillon. Un détecteur recueille une partie de l’émission d’électrons et l’image est construite par modulation et amplification du signal.

Là ou le microscope électronique à balayage analyse la surface, le microscope électronique en transmission (MET) analyse la structure interne des solides et donne accès à des micros structures détaillés Cette technique s’est avérée très utile dans l’analyse des domaines cristallins dans une matrice amorphe. Par exemple des catalysateurs contenant des métaux supportés par une matrice  mésoporeuse ayant des cristaux de zéolite microporeuse intégrés.

En ajoutant l’EDS (energy dispersed spectrometry), les deux techniques, microscopie électronique à balayage et microscopie électronique en transmission peuvent également être utilisé comme un outil d’analyse élémentaire à des endroits précis de l’échantillon. Les techniques sont considérées comme des mesures qualitatives.

L’information obtenue par microscopie électronique est souvent complétée par une analyse quantitative de par exemple, la taille des particules, la porosité, la surface ou la dispersion de la phase active sur une surface.