April 21, 2016

Raster Elektronen Mikroskopie und Transmission Elektronen Mikroskopie

Die Raster Elektronen Mikroskop (REM) wird häufig verwendet wenn die Visualisierung eines Festkörper oder Pulver ist erwünscht. Ungefähre Größe, Form und topographischen Information kann gewonnen werden.

Die Probe wird in der Regel mit einer dünnen Schicht Gold bedeckt und mit Elektronen bombardiert, um die Oberfläche, die sich ständig gescannt und rekonstruiert. Die Quelle von Elektronen konzentriert sich in einer feinen Sonde gerastert ist, dass über die Oberfläche der Probe. Ein Detektor sammelt einen Teil der emittierten Elektronen und ein Bild von Signal-Modulation und Verstärkung.

In der Erwägung, dass SEM analysiert die Oberfläche, Transmission Elektronen Mikroskopie (TEM)Sonden, die innere Struktur von Festkörpern und den Zugang zu Mikro-Struktur Detail. Diese Technik hat sich als sehr nützlich bei der Analyse von kristallinem Bereiche in amorphen Matrizen, wie sie in den unterstützten Metall-Katalysatoren und mikroporöser Zeolith Kristalle eingebettet in eine Matrix mesoporous.

Mit dem Zusatz von Energie Röntgen Spektrometer (EDS), SEM und TEM kann auch verwendet werden, wie ein elementares Analyse-Tool an bestimmten Orten der Probe untersucht. Die Techniken sind qualitative Messungen.

Die Informationen, die durch Elektronen-Mikroskopie bekommen wird ist oft ergänzt durch eine quantitative Analyse von z.B. Größe der Partikel, Porosität, die Fläche, oder Metall-Dispersion von Chemisorption.